Analizadores impedancia

Analizadores de impedancia, hasta 3 GHz

	ANALIZADOR DE IMPEDANCIAS IM7587 • Para I + D y producción de alto volumen de perlas de chips de ferrita e inductores de chips • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • 1MHz a 3GHz • Velocidad de prueba de 0.5ms, precisión de ± 0.65%, variabilidad del 0.07% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7580A • Para inspecciones de producción de alto volumen e investigación y desarrollo • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • 1MHz a 300MHz • Velocidad de prueba de 0.5ms, precisión de ± 0.72% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIAS IM7581 • Para producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 100 kHz a 300 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,72% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7585 • Para I + D y producción de alto volumen de perlas de chips de ferrita e inductores de chips • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 MHz a 1,3 GHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,65%, variabilidad del 0,07% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7583 • Para producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip • Comprobación de contacto completa mediante pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 MHz a 600 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,65% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA QUÍMICA IM3590 • Para I + D de componentes y materiales electroquímicos, baterías y EDLC • Mide el comportamiento de los iones y la resistencia de la solución • Prueba de impedancia LCR para gráficos de Cole-Cole y análisis de circuitos equivalentes • Prueba \| Z \|, L, C, R, σ, ε • Función de prueba de batería • 1 mHz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05%
	FIRMWARE DE ANÁLISIS DE CIRCUITOS EQUIVALENTES IM9000 • Realice un análisis de circuito simple y una toma de decisiones detallada de aceptación / rechazo para el análisis de impedancia de componentes electroquímicos avanzados • Actualización de software opcional para el modelo IM3570 • 5 modelos de circuitos equivalentes • Calcule las características de frecuencia ideales y compárelas con los valores medidos • Gráfica de Cole-Cole, visualización del círculo de admitancia
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM3570 • Repetibilidad superior de baja impedancia • Cumplir con las aplicaciones en la medición de baja ESR • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 4 Hz a 5 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,08% • Solución de dispositivo único para pruebas de alta velocidad y barrido de frecuencia

Medidores LCR, hasta 10 MHz

	MEDIDOR LCR IM3536 • Medidor LCR estándar de la industria que cumple con la más amplia gama de aplicaciones • Prueba \| Z \|, L, C, R • CC, o 4 Hz a 8 MHz (hasta 10 MHz disponible en pedido especial) • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,05% • Rango de precisión garantizado desde 1 mΩ
	MEDIDOR LCR IM3523 • Medidor LCR económico diseñado para líneas de producción • Pruebas continuas en condiciones de medición mixtas, incluidos CD (120 Hz) y ESR (100 kHz) • Funciones comparador y BIN • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 40 Hz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05% • Funciones comparador y BIN
	MEDIDOR LCR IM3533 • Modo de alta precisión de baja impedancia incorporado para probar baja inductancia o ESR de capacitancia de electrólisis de aluminio • Mediciones de relación de espiras , inductancia mutua y diferencia de inductancia de transformadores y bobinas • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 mHz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05% • Modo de medición por transformador
	LCR HiTESTER 3511-50 • Integrar en líneas de producción automatizadas • Prueba a bordo de condensadores y bobinas • Prueba \| Z \|, L, C, R • 120 Hz o 1 kHz • Velocidad de prueba de 5 ms, precisión de ± 0.08% • Comparador de alta velocidad

Medidores de capacitancia, hasta 1 MHz

MEDIDOR C 3506-10

• Prueba de alta velocidad de condensadores cerámicos en líneas de producción
• Integración con máquinas encintadoras automáticas y clasificadoras para la producción de MLCC (condensadores cerámicos multicapa)

• C, D, (tan δ), Q, prueba de baja capacitancia • 1 kHz o 1 MHz • Velocidad de prueba de 1,5 ms (1 MHz), precisión de ± 0,14%

C HiTESTER 3504

• Prueba de capacitancia con características de dependencia de voltaje mediante el uso de prueba de voltaje constante (CV)
• Detecta fallas de contacto en los 4 terminales para mayor confiabilidad
• Inspección de alta velocidad de capacitores cerámicos multicapa (MLCC) en máquinas encintadoras

• C, D (tan δ), prueba MLCC de gran capacitancia • 120Hz o 1kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.09%

Accesorio de prueba o sondas

	ACCESORIO DE PRUEBA IM9202 Mecanismo de puesta en escena flexible que admite una amplia gama de formas y tamaños de componentes • Dispositivo de prueba para ANALIZADOR DE IMPEDANCIA serie IM7580 • Prueba de alta frecuencia hasta 600 MHz • Identifique correctamente SRF y ESR para validar el rendimiento del componente
	ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9201 • Dispositivo de prueba para analizadores de impedancia de la serie IM7580 • Análisis de alta frecuencia • Para pruebas de conexión directa de dos cables • CC a 3 GHz • 6 tamaños de muestra medibles: 0201 a 1210 (EIA)
	ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9110 • Accesorio de dos cables de alta precisión • Alta reproducibilidad con tecnología de contacto avanzada • Para pruebas de conexión directa de dos cables • CC a 1 MHz • Tamaño de muestra medible: 008004 (EIA)
	ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9100 • Prueba de 4 cables de alta precisión de componentes electrónicos avanzados • Prueba de conexión directa • Prueba SMD con electrodos en la parte inferior • DC a 8MHz • Tamaños de muestra medibles: 01005 a 0402 (EIA)
	SONDA PINCHER L2001 • Sonda de 2 hilos para pruebas LCR de componentes de chip pequeños • CC a 8 MHz, terminación de 50 Ω • Distancia entre electrodos de la punta: 0,3 a 6 mm • Tamaño de muestra medible: 0603 (EIA)

	ANALIZADOR DE IMPEDANCIAS IM7587 • Para I + D y producción de alto volumen de perlas de chips de ferrita e inductores de chips • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • 1MHz a 3GHz • Velocidad de prueba de 0.5ms, precisión de ± 0.65%, variabilidad del 0.07% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7580A • Para inspecciones de producción de alto volumen e investigación y desarrollo • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • 1MHz a 300MHz • Velocidad de prueba de 0.5ms, precisión de ± 0.72% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIAS IM7581 • Para producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 100 kHz a 300 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,72% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7585 • Para I + D y producción de alto volumen de perlas de chips de ferrita e inductores de chips • Comparador y verificación de contactos • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 MHz a 1,3 GHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,65%, variabilidad del 0,07% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7583 • Para producción de gran volumen de perlas de chip de ferrita e inductores de chip • Comprobación de contacto completa mediante pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 MHz a 600 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,65% • Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA QUÍMICA IM3590 • Para I + D de componentes y materiales electroquímicos, baterías y EDLC • Mide el comportamiento de los iones y la resistencia de la solución • Prueba de impedancia LCR para gráficos de Cole-Cole y análisis de circuitos equivalentes • Prueba \| Z \|, L, C, R, σ, ε • Función de prueba de batería • 1 mHz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05%
	FIRMWARE DE ANÁLISIS DE CIRCUITOS EQUIVALENTES IM9000 • Realice un análisis de circuito simple y una toma de decisiones detallada de aceptación / rechazo para el análisis de impedancia de componentes electroquímicos avanzados • Actualización de software opcional para el modelo IM3570 • 5 modelos de circuitos equivalentes • Calcule las características de frecuencia ideales y compárelas con los valores medidos • Gráfica de Cole-Cole, visualización del círculo de admitancia
	ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM3570 • Repetibilidad superior de baja impedancia • Cumplir con las aplicaciones en la medición de baja ESR • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 4 Hz a 5 MHz • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,08% • Solución de dispositivo único para pruebas de alta velocidad y barrido de frecuencia

	MEDIDOR LCR IM3536 • Medidor LCR estándar de la industria que cumple con la más amplia gama de aplicaciones • Prueba \| Z \|, L, C, R • CC, o 4 Hz a 8 MHz (hasta 10 MHz disponible en pedido especial) • Velocidad de prueba de 0,5 ms, precisión de ± 0,05% • Rango de precisión garantizado desde 1 mΩ
	MEDIDOR LCR IM3523 • Medidor LCR económico diseñado para líneas de producción • Pruebas continuas en condiciones de medición mixtas, incluidos CD (120 Hz) y ESR (100 kHz) • Funciones comparador y BIN • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 40 Hz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05% • Funciones comparador y BIN
	MEDIDOR LCR IM3533 • Modo de alta precisión de baja impedancia incorporado para probar baja inductancia o ESR de capacitancia de electrólisis de aluminio • Mediciones de relación de espiras , inductancia mutua y diferencia de inductancia de transformadores y bobinas • Prueba \| Z \|, L, C, R • De 1 mHz a 200 kHz • Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ± 0.05% • Modo de medición por transformador
	LCR HiTESTER 3511-50 • Integrar en líneas de producción automatizadas • Prueba a bordo de condensadores y bobinas • Prueba \| Z \|, L, C, R • 120 Hz o 1 kHz • Velocidad de prueba de 5 ms, precisión de ± 0.08% • Comparador de alta velocidad

Analizadores de impedancia, hasta 3 GHz

ANALIZADOR DE IMPEDANCIAS IM7587

ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7580A

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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7583

ANALIZADOR DE IMPEDANCIA QUÍMICA IM3590

FIRMWARE DE ANÁLISIS DE CIRCUITOS EQUIVALENTES IM9000

ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM3570

Medidores LCR, hasta 10 MHz

MEDIDOR LCR IM3536

MEDIDOR LCR IM3523

MEDIDOR LCR IM3533

LCR HiTESTER 3511-50

Medidores de capacitancia, hasta 1 MHz

MEDIDOR C 3506-10

C HiTESTER 3504

Accesorio de prueba o sondas

ACCESORIO DE PRUEBA IM9202

ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9201

ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9110

ACCESORIO DE PRUEBA SMD IM9100

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