Caracterización de semiconductores

Caracterización de semiconductores

 

Serie CS-8000

Con una variedad de combinaciones de unidades, es ideal para la medición de semiconductores de próxima generación, respaldando la caracterización en todos los procesos.

Está equipado con una SMU con un voltaje máximo de 5 kV y una corriente máxima de 2 kA, tiene salida de pulso, patrón de compuerta y funciones de medición de microcorriente, y es muy compatible con la evaluación del diseño de semiconductores de amplio espacio entre electrodos, como SiC y GaN.
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Trazador de curvas de semiconductores serie CS-8000

Serie CS-3000, 5000, 10000

Maneja corrientes de fuga y corrientes altas en una sola unidad. También es posible realizar mediciones automáticas

Medición de características de diversos semiconductores como IGBTs, MOSFETs, transistores, diodos, etc. desde pequeña capacidad hasta gran capacidad.

Trazador de curvas de semiconductores serie CS-3000

Al automatizar la medición con el «Software de medición de parámetros de semiconductores CS-810», es posible registrar como evidencia y emitir juicios.

Ventajas de la adopción

  1. Realice mediciones precisas y confiables de acuerdo con el procedimiento de medición.
  2. El contenido de la medición también se guarda como evidencia.
  3. El autojuicio también es posible
  4. El control de productos opcionales también se puede automatizar (por ejemplo, el control de temperatura de la placa calefactora).

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Funciones avanzadas para facilitar su uso

El estado del cableado se puede comprobar con el gráfico “CONFIGURACIÓN”

Puede evitar conexiones incorrectas al medir su dispositivo.

Imagen de pantalla

Modo de onda donde el voltaje y la corriente aplicados pueden confirmarse mediante la forma de onda

  • Puede especificar el ancho de pulso y el punto de medición (tiempo) mientras verifica la forma de onda (corriente, voltaje) aplicada al dispositivo en el eje de tiempo como un osciloscopio.
  • Al verificar la forma de onda, puede determinar el ancho de pulso y el tiempo de medición adecuados.
  • No hay cambios en la forma de onda debido al sondeo como ocurre con un osciloscopio, y se pueden verificar señales anormales.
  • Es fácil comprobar si hay anomalías térmicas como oscilaciones debidas a la generación de calor.

Imagen de pantalla

Totalmente automatizado con alta compatibilidad con PC

Con el control remoto de la unidad principal, el software que permite diversas mediciones automáticas realiza pruebas de esfuerzo que eran difíciles con los trazadores de curvas convencionales, y simultáneamente controla placas calefactoras y cámaras termostáticas para automatizar completamente las características de temperatura de múltiples elementos.

Medición de parámetros de semiconductores CS-810 (opcional)

Dispositivo de memoria USB

La imagen puede ser TIFF, BMP o PNG, el fondo puede ser blanco o negro y se puede seleccionar color o monocromo. Los datos de forma de onda se pueden almacenar en formato de texto y binario al mismo tiempo.

Dispositivo de memoria USB

Herramienta de control remoto (gratuita)

Cuando un dispositivo de memoria USB no se puede utilizar por razones de seguridad, la herramienta de control remoto instalada en el PC proporciona una solución.

Herramienta de control remoto (gratuita)

Equipo estándar Ethernet (parte trasera de la unidad principal)

Interfaz Ethernet

Introducción a la función

BARRER

El número de puntos es variable. Se puede configurar según la velocidad y la resolución del barrido. La dirección del barrido se puede cambiar según la aplicación. Además, dado que el barrido personalizado puede barrer solo la parte necesaria, se logra una medición de alta resolución y alta velocidad, especialmente cuando se realiza una medición automática.

Función de búsqueda automática Vth/hFE (opción CS-800)

Tradicionalmente, esta medición requiere operaciones complicadas, pero con este producto se puede medir automáticamente en función de las condiciones de configuración.

Función de límite/barrido (opción CS-800)

Esta función aplica el límite de la medición normal de SWEEP por corriente y voltaje. Puede utilizarse para limitar los valores de corriente y voltaje aplicados al dispositivo bajo medición para protección, así como para detener el SWEEP en los valores deseados.

Imagen de pantalla

Búsqueda de facilidad de uso La operación básica utiliza perillas independientes

Descripción del panel de operaciones

Nombre del producto Número de orden Elementos de medición
CS-3100
Trazador de curvas de semiconductores
CS-3100CS-3300
Trazador de curvas de semiconductores
CS-3200 / 3300
CS-3100 No está equipado con modo de corriente grande
CS-3200 Voltaje máximo pico: 3000 V (modo de alto voltaje)
Corriente máxima pico: 1000 A (modo de gran corriente CS-3300)
CS-3300
CS-5400
Trazador de curvas de semiconductores
serie CS-5000
CS-5100 No está equipado con modo de corriente grande
CS-5200 Voltaje máximo de pico: 5000 V (modo de alto voltaje)
Corriente máxima de pico: 1500 A (modo de alta corriente CS-5400)
CS-5300
CS-5400
CS-15800
Trazador de curvas de semiconductores
“Trazador de curvas de potencia” Serie
CS-10000
Producto fabricado a medida
CS-10400 Voltaje máximo pico: 15 kV (modo de alto voltaje)
Corriente máxima pico: 8000 A (modo de alta corriente CS-10800/12800/15800)
CS-10800
CS-12800
CS-15800
Solicite información en idm@idm-instrumentos.es

 

Ver estaciones de puntas

 

Mesa de puntas Mini

Mesa de puntas Mini

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