La serie CS-8000 está equipada con una fuente de alto voltaje de hasta 5 kV y una fuente de alta corriente de 2 kA. Cuenta con salida de pulso, patrón de puerta y capacidades de medición de corriente muy pequeñas, y admite la evaluación de diseño de semiconductores de banda ancha como SiC y GaN.

Prueba de alta potencia de hasta 5 kV, 2000 A Medición precisa de corriente muy pequeña (resolución 250fA） Gran pantalla táctil de 12,1 pulgadas Variedad de salida de señal GATE Opción de medición de características de temperatura mejorada Pruebas de alta potencia en oblea con Wafer-Prober

Explicación de cada parte.

(1) Ventana de visualización XY El parámetro de voltaje/corriente se puede configurar en el eje X del eje Y, y se pueden mostrar una variedad de curvas características de semiconductores, como las características de Vds-Id, el voltaje de umbral y las características de saturación de Vds-Vgs. También se pueden establecer varios parámetros en el eje Y. La escala se puede seleccionar entre Registro o Lineal. (2) Ventana de visualización de YT La forma de onda aplicada medida se muestra en el eje de tiempo como un osciloscopio. Es fácil verificar si se han realizado mediciones precisas porque la serie CS-8000 puede mostrar el ancho del pulso, el punto de medición y la forma de onda anormal, como una oscilación, en tiempo real. Todos los datos de forma de onda aplicados y los datos en la pantalla XY se guardan al mismo tiempo. Por lo tanto, el resultado de la medición se puede volver a validar. (3) Ventana de visualización de datos de medición Esta ventana muestra información de medición detallada, como resultados y condiciones, estado en formato de texto. Las áreas de visualización de datos de medición y XY, YT se pueden activar/desactivar y cambiar de tamaño según la medición. También estas tres áreas están unidas entre sí.	(4) Ventana de ajustes de configuración En esta ventana, se establece la configuración de medición para el dispositivo. Admite la selección de unidades de voltaje/corriente, cambios de cableado, etc. en una pantalla gráfica. (5) Ventana de configuración de parámetros Esta área es donde establece los parámetros de medición, los límites de medición y cambia entre mediciones Manuales/Automáticas. (6) Interfaz USB Las imágenes de forma de onda, los datos y las condiciones de configuración se pueden guardar directamente en la memoria USB. (7) Panel de control DRENAJE/COLECTOR・PUERTA/BASE・La perilla giratoria de eje vertical/horizontal, los botones y las perillas giratorias se encuentran en el panel frontal para facilitar las mediciones manuales. El teclado numérico central le permite ingresar un valor numérico para el parámetro.

Características

■ Arquitectura de hardware seleccionable

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