Estaciones de puntas
Estaciones de puntas – Probe Stations – Micromanipuladores – para fijación y conexión de obleas, circuitos integrados, dispositivos electrónicos miniatura y materiales a equipos electrónicos de test para su caracterización eléctrica. Poseen sistema de fijación de oblea por vacío, microposicionadores X-Y-Z con diversos tipos de soportes de puntas y puntas de contacto eléctrico de diferentes diámetros y microscopios ópticos. Las estaciones están disponibles con chucks de 4, 6, 8 y hasta 12″. Opciones disponibles de chucks térmicos para alta temperatura, sistema criogénico para temperaturas hasta 77K, mesas antivibratorias y cámaras de apantallamiento.
Los microposicionadores sirven de plataforma de conexión entre la muestra y el equipo electrónico de test, con resolución de 1 micra e inferior en el posicionamiento de las puntas de prueba. Plataformas X-Y con movimiento grueso y fino para posicionamiento rápido del chuck y ajuste fino posterior.
Los microposicionadores pueden usarse con nuestras estaciones de puntas, solos, o con cualquier estación de puntas de otros fabricantes. Disponibles con base magnética permanente, magnética on/off, de vacío y de tornillos. Los microposicionadores montan soportes de puntas con diferentes tipos de cable eléctrico y mecanismo de sujeción de la punta.
Determinación de las características eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de circuitos integrados. Pruebas térmicas para caracterizar el comportamiento – rendimiento térmico, disipación – absorción de energía en circuitos integrados.
Estaciones de puntas básicas actualizables para diferentes aplicaciones.
La estación de puntas de medición SimplePS
Esta estación de medición SimplePS está especialmente diseñado para clientes de bajo presupuesto.
Ha sido un dilema para los clientes elegir un sistema de bajo presupuesto con la mejor calidad.
Pero ahora el paquete de medición SimplePS puso fin a esto. Este paquete incluye los productos más rentables y fiables: estación de sonda SimplePS, microposicionador DTP100, soportes de sonda de la serie S10 y accesorios.
Este paquete también es un producto de la técnica KitStart. Permite a los usuarios actualizar la configuración mientras cambian los requisitos de prueba y protege la inversión actual de los usuarios.
Ver catálogo de Estaciones de puntas básicas actualizables:
IDM – simplePS_Probe_Station_Technical_Specs (1)
Aplicaciones: Basic I, V, R measurement.
Part# | Descriptions | Remark |
SimplePS-BasicI-V |
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100X MOTIC stereo microscope was included in SimplePS probing platform. |
Examples: Keithley 2401, 2400, etc.
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Aplicaciones: I, V, R measurement, C-V measurement, LCR measurement.
SimplePS-COAX |
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100X MOTIC stereo microscope was included in SimplePS probing platform. |
Example: Keysight C-V modules, LCR meters.
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Aplicaciones: Ultra-fast I-V tests: pulsed I-V, transient I-V, and pulsed sourcing.
SimplePS-COAX-PIV |
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100X MOTIC stereo microscope was included in SimplePS probing platform. |
Examples: Keithley 4225-PMU
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Aplicaciones: High resolution I-V measurement.
SimplePS-COAX-TRIAX |
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100X MOTIC stereo microscope was included in SimplePS probing platform. |
Examples: Keithley 2405, 2600. Keysight 2900
Ver catálogo general de estaciones de puntas, microposicionadores y accesorios. Keyfactor Probe Station Sys and Assys Catalog – IDM
Si desea precios, indicarnos modelos de esta lista de productos. Keyfactor PmodelosMar18 – IDM a idm@idm-instrumentos.es
IDM – IPS_Probe_Station_Technical_Specs