Medida espesores en películas o capas delgadas.
Medida espesores en películas
MProbe, puede medir prácticamente cualquier película translúcida delgada con espesor desde 1 nm hasta 1 mm. Se puede medir de forma rápida y fiablemente el espesor y las constantes ópticas en la mayoría de las películas translúcidas o ligeramente absorbentes como: óxidos, nitruros, fotosensibles, polímeros, semiconductores (AlGaAs, InGaAs, CdTe, CIGS), revestimientos duros (SiC, DLC), revestimientos de polímeros (Parileno, poliamidas), pequeñas películas metálicas y muchos más.
Rango espesores: 1 nm-1 mm. Rango longitudes de onda: 200 nm- 5000 nm.
– Medidas y análisis en tiempo real: Multi-capa, delgada, gruesa, no uniformes, etc… – Flexible: De banco o in-situ, conforme R&D. Fácil integración en un sistema usando TCP o interface Modbus. – Medidas: Espesor y constantes ópticas (índice de refracción y coeficiente de absorción). – Amigable y potente: Medidas y análisis con un solo clic. Potentes herramientas: Sensibilidad y simulación, corrección de fondo y escala, unión de capas y materiales, proceso de producción por lotes.
Precisión: 0,01 nm ó 0,01%. Sensibilidad: 0,2% ó 1 nm. Estabilidad: 0,02 nm ó 0,03%. Tamaño estándar del haz 3 mm, hasta 3 um. Tamaño de la muestra desde 1 mm.
Detalles en http://idm-instrumentos.es/espesor-y-constantes-opticas-de-peliculas-delgadas/
