Prueba de obleas, todo tipo de dispositivos, Wafer, etc. IV, CV, señal óptica, RF, análisis de ruido 1/f y otras características, prueba de radiofrecuencia, etc.
Admite la prueba de obleas Sic/Gan, prueba de obleas de alta potencia; reemplaza el diseño de Chuck, puede probar diferentes obleas; puede integrarse con el sistema de instrumentación; puede actualizar la prueba de entorno de prueba de alta y baja temperatura
Estación de sonda automática A8
●Tamaño pequeño, peso ligero, huella más pequeña ●Control de movimiento de circuito cerrado completo de nivel micro ●El brazo de Bernoulli admite cortes finos ●Alta precisión y velocidad de prueba, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la prueba ●Detección en chip 24*7 ●Alto voltaje y alta corriente aplicación de prueba
Lector de identificación de obleas OCR
Mandril: temperatura alta/baja/normal
Admite oblea de 50 µm
Soporte Bernoulli brazo y mandril
3KV de alto voltaje, corriente grande de 300A
Mandril triaxial, corriente de fuga pA
Datos de mapas en tiempo real
Sondeo de contacto de un solo toque
PMAI: Inspección automática de marcas de sonda
PLV: Visor de registro de la sonda
RCS: Sistema de Control Remoto
Editor de DUT y editor de recetas
Estación de sonda automática A12
●Alta precisión y velocidad de las pruebas, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la producción ●Operación del sistema completamente automatizada, pruebas rápidas, seguras y confiables ●Admite pruebas de un solo punto y pruebas continuas ●Sistema de control integral, acceso rápido a las pruebas de instrumentos ●Sistema de pruebas de alta eficiencia CHUCK, la velocidad de funcionamiento supera los 200 mm / s ● Abundantes pruebas de automatización de software, calibración precisa de la precisión mecánica ● Medición automática actualizable del grosor de la oblea y lectura de tarjetas de identificación ● Dispositivo interno del sistema antichoque, funcionamiento más estable
Lector de identificación FID/FOUP
Lector de ID de obleas OCR (superior/inferior)
3 bandejas tampón para almacenamiento de obleas
Minientorno del cargador
Cambiador automático de tarjetas de sonda
Mandril: temperatura alta/baja/normal
Datos de mapas en tiempo real
Sondeo de contacto de un solo toque
PMAI: Inspección automática de marcas de sonda
PLV: Visor de registro de la sonda
RCS: Sistema de Control Remoto
Editor de DUT y editor de recetas
La estación de sonda semiautomática X12 es una estación de sonda de obleas semiautomática de alta eficiencia integral que se especializa en varias pruebas avanzadas de rendimiento de chips. Integra múltiples funciones como electricidad, ondas de luz y microondas. Tiene un rango de temperatura relativamente alto y precisión de prueba en la industria. , puede coincidir con una variedad de entornos de aplicación de prueba.
El equipo de estación de sonda semiautomática X12 está especializado en probar el rendimiento avanzado de chips de varios dispositivos, como obleas Si/GaN/SiC de 12″, 8″ y 6″, y puede equiparse con los instrumentos y medidores correspondientes para IV, CV, señal óptica , RF, ruido 1/f y otros análisis característicos, el equipo tiene muchas funciones, se puede actualizar a pruebas de obleas de alta potencia, pruebas de radiofrecuencia, pruebas automáticas y se puede cargar con un sistema de control de temperatura para cumplir con las pruebas de rendimiento de los clientes de varios dispositivos de obleas en entornos de alta y baja temperatura.
Ver mesas de prueba manuales básicas https://idm-instrumentos.es/test-y-medida-mesas-de-puntas-listado/
Solicite información técnica y/u oferta a idm@idm-instrumentos.es
