Estaciones de puntas

Estaciones de puntas – Probe Stations – Micromanipuladores – para fijación y conexión de obleas, circuitos integrados, dispositivos electrónicos miniatura y materiales a equipos electrónicos de test para su caracterización eléctrica.

Estación de puntas

Estación de puntas básica

Poseen sistema de fijación de oblea por vacío, micro posicionadores X-Y-Z con diversos tipos de soportes de puntas y puntas de contacto eléctrico de diferentes diámetros y microscopios ópticos.

Las estaciones están disponibles con chucks de 4, 6, 8 y hasta 12″.  Opciones disponibles de chucks térmicos para alta temperatura, sistema criogénico para temperaturas hasta 77K, mesas antivibratorias y cámaras de apantallamiento.

Estación apantallada

Estación apantallada

Sirven de plataforma de conexión entre la muestra y el equipo electrónico de test, con resolución de 1 micra e inferior en el posicionamiento de las puntas de prueba. Plataformas X-Y con movimiento grueso y fino para posicionamiento rápido del chuck y ajuste fino posterior.

Los microposicionadores pueden usarse con nuestras estaciones de puntas, solos, o con cualquier estación de puntas de otros fabricantes. Disponibles con base magnética permanente, magnética on/off, de vacío y de tornillos. Los microposicionadores montan soportes de puntas con diferentes tipos de cable eléctrico y mecanismo de sujeción de la punta. Ver información y modelos de los microposicionadores aquí.

Determinación de las características eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de circuitos integrados. Pruebas térmicas para caracterizar el comportamiento – rendimiento térmico, disipación – absorción de energía en circuitos integrados.

Información de gama de estaciones de puntas

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