Trazadores de curvas para semiconductores
Trazador de curvas de semiconductores serie CS-8000 |
La serie CS-8000 está equipada con una fuente de alto voltaje de hasta 5 kV y una fuente de alta corriente de 2 kA. Cuenta con salida de pulso, patrón de puerta y capacidades de medición de corriente muy pequeñas, y admite la evaluación de diseño de semiconductores de banda ancha como SiC y GaN. |
|
Ver https://www.iti.iwatsu.co.jp/en/products/cs/cs8000_top.html
Trazadores de curvas de las Series CS-3000, CS-5000 y CS-10000
Los trazadores de curvas de las Series CS-3000, CS-5000 y CS-10000 de Iwatsu están diseñados para caracterizar Semiconductores de potencia, IGBTs, MOSFETs, Transistores y Diodos. Voltaje máximo de 10 kV pico y corrientes de hasta 8000 Apico.
Muchos de los trazadores de curvas Iwatsu están disponibles con un modo HC para obtener corrientes de miles de Amperios. Por el contrario el modo Leakage permite medir con resoluciones de 1 pA.
Todos los trazadores están equipados con interfaz USB para descarga de datos y capturas de pantalla/gráficas y LAN para control remoto. Software opcional.
Numerosos test fixtures y opciones de escáner multicanal para aplicaciones automáticas.
Ver comparativa con trazadores de curvas
Configuración gráfica Ejemplo de característica I-V de transistor (modo traza)
Curvas Vbe e Ic en modo alta corriente pulsada (modo forma de onda)
Scientific Test fabrica comprobadores de semiconductores automáticos y trazadores
de curvas de alta potencia para ensayo de dispositivos semiconductores discretos, paneles fotovoltaicos y otros dispositivos de alta potencia. Los trazadores de curvas se usan mundialmente para producción de gran volumen, control de calidad y pruebas finales de semiconductores. Suministrado con un ordenador basado en Intel y software Windows, estos trazadores de curvas son altamente fiables, extremadamente rápidos y muy fáciles de usar. |
|
Desde pA a 1200 A y de mV hasta 2000 V… los comprobadores automáticos de la serie 5000 permiten comprobar numerosos dispositivos semiconductores. Gracias a su ordenador interno, el tester proporciona alta velocidad e independencia del programa (después de su ejecución); o desarrollo del test y captura de datos intuitivo cuando se conecta a un PC. Las curvas son generadas punto-a-punto usando secuencias de test automáticas a alta velocidad. Con el software avanzado, la configuración del test es simple y directa – simplemente seleccionar la curva deseada en el menu y completar los campos en blanco. Los saltos entre puntos pueden ser lineales o logarítmicos. El tiempo de test típico por punto es de 6 a 20 milisegundos; pudiendose obtener curvas de 200 puntos en unos pocos segundos. Las curvas capturadas pueden exportarse a Excel para generar informes.Listado de dispositivos semiconductores y parámetros de análisis
|
Características Destacadas
|
|
|
|
Más información en http://www.scitest.com/